色譜、光譜、質(zhì)譜的區(qū)別，簡而言之就是：
質(zhì)譜：定性、定量，可以推測物質(zhì)的組成；
色譜：定量，可分辨樣品中的不同物質(zhì)；
光譜：定性，確定樣品中主要基團，確定物質(zhì)類別。
一、光譜法和色譜法的區(qū)別
（1）分析速度較快。原子發(fā)射光譜用于煉鋼爐前的分析，可在l～2分鐘內(nèi)，同時給出二十多種元素的分析結(jié)果。
（2）操作簡便。有些樣品不經(jīng)任何化學(xué)處理，即可直接進行光譜分析，采用計算機技術(shù)，有時只需按一下鍵盤即可自動進行分析、數(shù)據(jù)處理和打印出分析結(jié)果。在毒劑報警、大氣污染檢測等方面，采用分子光譜法遙測，不需采集樣品，在數(shù)秒鐘內(nèi)，便可發(fā)出警報或檢測出污染程度。
（3）不需純樣品。只需利用已知譜圖，即可進行光譜定性分析。這是光譜分析一個十分突出的優(yōu)點。
（4）可同時測定多種元素或化合物。省去復(fù)雜的分離操作。
（5）選擇性好�？蓽y定化學(xué)性質(zhì)相近的元素和化合物。如測定鈮、鉭、鋯、鉿和混合稀土氧化物，它們的譜線可分開而不受干擾，成為分析這些化合物的得力工具。
（6）靈敏度高�？衫霉庾V法進行痕量分析。目前，相對靈敏度可達到千萬分之一至十億分之一，絕對靈敏度可達10-8g~10-9g。
（7）樣品損壞少�？捎糜诠盼镆约靶淌聜刹斓阮I(lǐng)域。
隨著新技術(shù)的采用（如應(yīng)用等離子體光源），定量分析的線性范圍變寬，使高低含量不同的元素可同時測定。還可以進行微區(qū)分析。
二、色譜法與光譜、質(zhì)譜相比
三、光譜定量的局限性和光譜分析的優(yōu)缺點
局限性：光譜定量分析建立在相對比較的基礎(chǔ)上，必須有一套標準樣品作為基準，而且要求標準樣品的組成和結(jié)構(gòu)狀態(tài)應(yīng)與被分析的樣品基本一致，這常常比較困難。
光譜分析法分類有哪些？概括的說，就是下圖了。
光譜法依據(jù)物質(zhì)與輻射相互作用的性質(zhì)，一般分為發(fā)射光譜法、吸收光譜法、拉曼散射光譜法三種類型。
光譜分析的優(yōu)點：
1. 采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2. 測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3. 對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4. 分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達到快速檢測。
5. 分析結(jié)果的準確性是建立在化學(xué)分析標樣的基礎(chǔ)上。
光譜分析的缺點：
1. 對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。
2. 不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結(jié)果不能做為國家認證依據(jù)。
3. 受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。
4. 需要大量代表性樣品進行化學(xué)分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5. 模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標準樣品發(fā)生變化時，模型也要變化。
6. 建模成本很高，測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。
7. 易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對檢測結(jié)果的準確度影響較大。
四、質(zhì)譜的優(yōu)缺點
質(zhì)譜法特點是唯一可以確定分子量的方法，特別是現(xiàn)代生物質(zhì)譜，適用于生物大分子分子量（數(shù)十萬）定；具有極高靈敏度，檢測限達10-14g。
質(zhì)譜法的應(yīng)用：
質(zhì)譜儀的種類有很多，從分析對象來看，可分為原子質(zhì)譜和分子質(zhì)譜法。
質(zhì)譜最重要的應(yīng)用是分離同位素并測定它們的原子質(zhì)量及相對豐度。測定原子質(zhì)量的精度超過化學(xué)測量方法，大約2／3以上的原子的精確質(zhì)量是用質(zhì)譜方法測定的。質(zhì)譜方法還可用于有機化學(xué)分析，特別是微量雜質(zhì)分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結(jié)構(gòu)提供可靠的依據(jù)。由于化合物有著像指紋一樣的獨特質(zhì)譜，質(zhì)譜儀在工業(yè)生產(chǎn)中也得到廣泛應(yīng)用。
五、總結(jié)
色譜、光譜、質(zhì)譜都有各自的優(yōu)缺點。為了能夠最大限度的發(fā)揮每種分析儀器的最大優(yōu)勢，可將兩種或三種儀器進行聯(lián)用來分析樣品，聯(lián)用技術(shù)能夠克服儀器單獨使用時的缺陷。是未來分析儀器發(fā)展的趨勢所在。
（文章來源實驗與分析）
