紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分析測(cè)試的總誤差
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的分析總誤差為雜散光引起的誤差和噪聲引起的誤差之和。紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分析測(cè)試的總誤差除了包括雜散光和噪聲（含基線平直度）引起的誤差，還有光譜帶寬、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、試樣配制和操作等引起的誤差。因此，總誤差應(yīng)是雜散光、噪聲、基線平直度、光譜帶寬、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、試樣配制和操作等多種誤差的總和。
A．Primer指出：紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的分析總誤差為雜散光引起的誤差和噪聲引起的誤差之和。紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分析測(cè)試的總誤差除了包括雜散光和噪聲（含基線平直度）引起的誤差，還有光譜帶寬、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、試樣配制和操作等引起的誤差。因此，總誤差應(yīng)是雜散光、噪聲、基線平直度、光譜帶寬、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、試樣配制和操作等多種誤差的總和。
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分析測(cè)試的總誤差
以上誤差計(jì)算方法簡(jiǎn)單、直觀，儀器設(shè)計(jì)者或分析工作者只要根據(jù)自己估算或?qū)嶋H測(cè)試的數(shù)據(jù)（或假設(shè)的數(shù)據(jù)），結(jié)合儀器的性能技術(shù)指標(biāo)（雜散光、噪聲、基線平直度、芳寬等），并考慮分析測(cè)試者在樣品配制、處理、儀器操作等方面的誤差，就能估算出儀器對(duì)某項(xiàng)分析工作的分析誤差，是一種很實(shí)用的誤差計(jì)算方法。
