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商品描述: 工作原理 : WKL-702 顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字 CCD 攝像機(jī)和顆粒圖像處理...
商家品牌:上海儀電物光
來(lái)電有驚喜
商品描述: 工作原理 WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行粉塵分散度分析和粒度測(cè)量的粉塵分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和粉塵分散度處理分析軟件組成。...
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商品描述: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 顆粒測(cè)試...
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商品描述: 工作原理: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)...
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商品描述: 工作原理: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 顆粒測(cè)試的數(shù)...
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商品描述: 工作原理: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 &nb...
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商品描述: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束...
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商品描述: 激光粒度儀采用全量程米氏散射理論。 1、測(cè)量范圍:0.05~800微米 2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50) 重復(fù)性偏差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50) &nb...
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商品描述: 分析儀采用全量程米氏散射理論。 1、測(cè)量范圍:0.02~1200微米 2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50) 重復(fù)性偏差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50) ...
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商品描述: 采用全量程米氏散射理論 1、測(cè)量范圍:0.1~600微米 2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50) 重復(fù)性偏差:〈±1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50) &n...
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