高溫試驗箱環(huán)境溫度受電路功率、老化板擺放位置的變化、烘箱網(wǎng)速變化等因素的影響導(dǎo)致高溫試驗箱溫場出現(xiàn)變化，高溫烘箱內(nèi)溫場變化劇烈的會影響產(chǎn)品的正常老化試驗，形成過應(yīng)力的情況，嚴(yán)重時會造成電路失效。對影響高溫老化試驗箱的溫度因素進行了試驗監(jiān)控分析，找出了影響其溫場的主要原因和規(guī)律，并采取了更好的散熱措施，防止老化電路過溫失效。
1)高溫試驗箱內(nèi)的溫場變化受老化電路功率大小和高溫老化試驗箱散熱能力大小(風(fēng)速)影響。高溫試驗箱內(nèi)不僅控制所加電路的功率，還改變箱內(nèi)電路排列方式，下層可以盡量加滿電路，依次由下層逐漸減少電路功率，高溫試驗箱內(nèi)形成功率梯度，與試驗箱風(fēng)速吻合，達到散熱目的。
2)試驗箱使用的是電熱高溫干燥試驗箱，風(fēng)源來自底部，由于試驗箱承載板和老化板的原因，風(fēng)速由下往上逐漸減小，根據(jù)試驗箱風(fēng)速的特點，可以將老化板放置方向與試驗箱風(fēng)向保持一致，增大通風(fēng)面積，減少風(fēng)速阻隔，增強高低溫試驗箱的散熱功能。
3)根據(jù)改進措施結(jié)合以功率器件DC/DC電源為試驗對象，溫度設(shè)置為80℃，試驗電路功率65W(1只)逐漸遞增到520W(8只)，高溫試驗箱內(nèi)電路功率達到520W比設(shè)定溫度高出5.6℃，達到國軍標(biāo)準(zhǔn)要求(8℃或8%)。
